GB/T 17007-1997 《绝缘栅双极型晶体管测试方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 17007-1997
- 标准中文名称：绝缘栅双极型晶体管测试方法
- 标准英文名称：Measuring methods for insulated-gate bipolar transistor
国家标准《绝缘栅双极型晶体管测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位西安电力电子技术研究所。
- 标准号
- GB/T 17007-1997
- 发布日期
- 1997-10-05
- 实施日期
- 1998-08-01
- 废止日期
- 2004-10-14
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- K46
- 国际标准分类号
- 31.080.30
31 电子学 31.080 半导体分立器件 31.080.30 三极管 - 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
标准全文
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