GB/T 17444-1998 《红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 17444-1998
- 标准中文名称：红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
- 标准英文名称：The technical norms for measurementand test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays
国家标准《红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国科学院上海技术物理研究所。被GB/T 17444-2013GB/T 17444-2013全部代替
- 标准号
- GB/T 17444-1998
- 发布日期
- 1998-07-30
- 实施日期
- 1999-05-01
- 废止日期
- 2014-04-15
- 标准类别
- 基础
- 中国标准分类号
- L52
- 国际标准分类号
- 31.260
31 电子学 31.260 光电子学、激光设备 - 归口单位
- 工业和信息化部（电子）
- 执行单位
- 工业和信息化部（电子）
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
标准全文
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