收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 14145-1993 标准中文名称：硅外延层堆垛层错密度测定 干涉相衬显微镜法 标准英文名称：Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference-contract microscopy 国家标准《硅外延层堆垛层错密度测定 干涉相衬显微镜法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位上海有色金属研究所。 收录自 …
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