GB/T 11685-2003 《半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法》-国家标准

calendar 2023-03-07 · 大约 1 分钟 · GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 全国核仪器仪表标准化技术委员会

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标准基础信息

  • 标准号：GB/T 11685-2003
  • 标准中文名称：半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
  • 标准英文名称：Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers

国家标准《半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位核工业标准化研究所。全部代替GB/T 11685-1989全部代替GB/T 8992-1988本标准非等效采用IEC国际标准：IEC 60759:1983。采标中文名称:。

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标准号
GB/T 11685-2003
发布日期
2003-07-07
实施日期
2004-01-01
全部代替标准
GB/T 11685-1989,GB/T 8992-1988
标准类别
方法
中国标准分类号
F80
国际标准分类号
27.120.01
27 能源和热传导工程
27.120 核能工程
27.120.01 核能综合
归口单位
全国核仪器仪表标准化技术委员会
执行单位
全国核仪器仪表标准化技术委员会
主管部门
国家标准化管理委员会

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标准全文

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