GB/T 15651.3-2003 《半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 15651.3-2003
- 标准中文名称：半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
- 标准英文名称：Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods
国家标准《半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位华禹光谷股份有限公司半导体厂。本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60747-5-3:1997。采标中文名称:。
- 标准号
- GB/T 15651.3-2003
- 发布日期
- 2003-11-24
- 实施日期
- 2004-08-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L50
- 国际标准分类号
- 31.260
31 电子学 31.260 光电子学、激光设备 - 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
标准全文
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