GB/T 19403.1-2003 《半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 19403.1-2003
- 标准中文名称：半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
- 标准英文名称：Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
国家标准《半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位信息产业部第四研究所。本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60748-11-1:1992。采标中文名称:。
- 标准号
- GB/T 19403.1-2003
- 发布日期
- 2003-11-24
- 实施日期
- 2004-08-01
- 标准类别
- 产品
- 中国标准分类号
- L56
- 国际标准分类号
- 31.200
31 电子学 31.200 集成电路、微电子学 - 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
标准全文
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