GB/T 20724-2006 《薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 20724-2006
- 标准中文名称：薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
- 标准英文名称：Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
国家标准《薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位北京科技大学。主要起草人柳得橹 。被GB/T 20724-2021GB/T 20724-2021全部代替
- 标准号
- GB/T 20724-2006
- 发布日期
- 2006-12-25
- 实施日期
- 2007-08-01
- 废止日期
- 2022-07-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- N53
- 国际标准分类号
- 71.040.99
71 化工技术 71.040 分析化学 71.040.99 有关分析化学的其他标准 - 归口单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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