收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 19922-2005 标准中文名称：硅片局部平整度非接触式标准测试方法 标准英文名称：Standard test methods for measuring site flatness on silicon wafers by noncontact scanning 国家标准《硅片局部平整度非接触式标准测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位洛阳单晶硅有限责任公司。 收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com) …
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