收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 19921-2005 标准中文名称：硅抛光片表面颗粒测试方法 标准英文名称：Test method of particles on silicon wafer surfaces 国家标准《硅抛光片表面颗粒测试方法》由TC243（全国有色金属标准化技术委员会）归口，主管部门为中国有色金属工业协会。主要起草单位北京有色金属研究总院。被GB/T 19921-2018GB/T 19921-2018全部代替 收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务 …
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