GB/T 22586-2008 《高温超导薄膜微波表面电阻测试》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 22586-2008
- 标准中文名称：高温超导薄膜微波表面电阻测试
- 标准英文名称：Measurements of microwave surface resistance of resistance of HTSC thin film
国家标准《高温超导薄膜微波表面电阻测试》由TC265（全国超导标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。主要起草单位电子科技大学、清华大学、南京大学等。主要起草人罗正祥 、刘宜平 、李宏成等 。被GB/T 22586-2018GB/T 22586-2018全部代替本标准等同采用IEC国际标准：IEC 61788-7:2006。采标中文名称:电子性能测量 微波频率下超导体的表面电阻。
- 标准号
- GB/T 22586-2008
- 发布日期
- 2008-12-15
- 实施日期
- 2009-05-01
- 废止日期
- 2018-10-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- H21
- 国际标准分类号
- 77.040.99
77 冶金 77.040 金属材料试验 77.040.99 金属材料的其他试验方法 - 归口单位
- 全国超导标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国超导标准化技术委员会
- 主管部门
- 中国科学院
标准全文
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