GB/T 1554-2009 《硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 1554-2009
- 标准中文名称：硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
- 标准英文名称：Testing method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques
国家标准《硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位峨嵋半导体材料厂。主要起草人何兰英 、王炎 、张辉坚 、刘阳 。全部代替GB/T 1554-1995
- 标准号
- GB/T 1554-2009
- 发布日期
- 2009-10-30
- 实施日期
- 2010-06-01
- 全部代替标准
- GB/T 1554-1995
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- H80
- 国际标准分类号
- 29.045
29 电气工程 29.045 半导体材料 - 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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