GB/T 23414-2009 《微束分析 扫描电子显微术 术语》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 23414-2009
- 标准中文名称：微束分析 扫描电子显微术 术语
- 标准英文名称：Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary
国家标准《微束分析 扫描电子显微术 术语》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位中国科学院上海硅酸盐研究所。主要起草人李香庭 、曾毅 。本标准等同采用ISO国际标准：ISO 22493:2008。采标中文名称:微束分析 扫描电子显微术 术语。
- 标准号
- GB/T 23414-2009
- 发布日期
- 2009-04-01
- 实施日期
- 2009-12-01
- 标准类别
- 基础
- 中国标准分类号
- N33
- 国际标准分类号
- 37.020;01.040.37
01 综合、术语学、标准化、文献 01.040 词汇 01.040.37 成像技术（词汇） 37 成像技术 37.020 光学设备 - 归口单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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