GB/T 25184-2010 《X射线光电子能谱仪检定方法》-国家标准
目录
标准基础信息
- 标准号：GB/T 25184-2010
- 标准中文名称：X射线光电子能谱仪检定方法
- 标准英文名称：Verification method for X-ray photoelectron spectrometers
国家标准《X射线光电子能谱仪检定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室。主要起草人王水菊 、时海燕 、丁训民 。
- 标准号
- GB/T 25184-2010
- 发布日期
- 2010-09-26
- 实施日期
- 2011-08-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- G04
- 国际标准分类号
- 71.040.40
71 化工技术 71.040 分析化学 71.040.40 化学分析 - 归口单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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