GB/T 26065-2010 《硅单晶抛光试验片规范》-国家标准
目录
标准基础信息
- 标准号：GB/T 26065-2010
- 标准中文名称：硅单晶抛光试验片规范
- 标准英文名称：Specification for polished test silicon wafers
国家标准《硅单晶抛光试验片规范》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位宁波立立电子股份有限公司、杭州海纳半导体有限公司。主要起草人宫龙飞 、何良恩 、许峰 、黄笑容等 。
- 标准号
- GB/T 26065-2010
- 发布日期
- 2011-01-10
- 实施日期
- 2011-10-01
- 标准类别
- 产品
- 中国标准分类号
- H80
- 国际标准分类号
- 29.045
29 电气工程 29.045 半导体材料 - 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
- 点击查看标准全文。