GB/T 6619-2009 《硅片弯曲度测试方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 6619-2009
- 标准中文名称：硅片弯曲度测试方法
- 标准英文名称：Test methods for bow of silicon wafers
国家标准《硅片弯曲度测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位洛阳单晶硅有限责任公司。主要起草人刘玉芹 、蒋建国 、冯校亮 、张静雯 。全部代替GB/T 6619-1995本标准修改采用其他国际标准：SEMI MF534-0706。采标中文名称:硅片弯曲度测试方法。
- 标准号
- GB/T 6619-2009
- 发布日期
- 2009-10-30
- 实施日期
- 2010-06-01
- 全部代替标准
- GB/T 6619-1995
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- H80
- 国际标准分类号
- 29.045
29 电气工程 29.045 半导体材料 - 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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