收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 17363.1-2009 标准中文名称：黄金制品金含量无损测定方法 第1部分：电子探针微分析法 标准英文名称：Nondestructive mensuration of gold content in the gold products - Part 1: Method of electron probe microanalysis 国家标准《黄金制品金含量无损测定方法 第1部分：电子探针微分析法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 17363.2-2009 标准中文名称：黄金制品金含量无损测定方法 第2部分：综合测定方法 标准英文名称：Nondestructive mensuration of gold content in the gold products - Part 2: Method of compositive determine 国家标准《黄金制品金含量无损测定方法 第2部分：综合测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位上海理工大学、上海 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 23413-2009 标准中文名称：纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法 标准英文名称：Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials - X-ray diffraction line broadening method 国家标准《纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位钢铁研 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 23414-2009 标准中文名称：微束分析 扫描电子显微术 术语 标准英文名称：Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary 国家标准《微束分析 扫描电子显微术 术语》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位中国科学院上海硅酸盐研究所。主要起草人李香庭 、曾毅 。本标准等同采用ISO国际标准：ISO 22493:2008。采标中文名称:微束分析 扫描电子 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 25189-2010 标准中文名称：微束分析 扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法 标准英文名称：Microbeam analysis - Determination method for quantitative analysis parameters of SEM-EDS 国家标准《微束分析 扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位中国地质科学院矿产资源研究所。主要起草人周剑雄 、陈振宇 。 …
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认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 25184-2010 标准中文名称：X射线光电子能谱仪检定方法 标准英文名称：Verification method for X-ray photoelectron spectrometers 国家标准《X射线光电子能谱仪检定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室。主要起草人王水菊 、时海燕 、丁训民 。 收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 25188-2010 标准中文名称：硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法 标准英文名称：Thickness measurements for ultrathin silicon oxide layers on silicon wafers X-ray photoelectron spectroscopy 国家标准《硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，TC38SC2（全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 25187-2010 标准中文名称：表面化学分析 俄歇电子能谱 - 选择仪器性能参数的表述 标准英文名称：Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy - Description of selected instrumental performance parameters 国家标准《表面化学分析 俄歇电子能谱 - 选择仪器性能参数的表述》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，TC38SC2（全国微束分析标准化 …
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