收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 1555-2009 标准中文名称：半导体单晶晶向测定方法 标准英文名称：Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal 国家标准《半导体单晶晶向测定方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位峨嵋半导体材料厂。主要起草人杨旭 、何兰英 。全 …