收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 1553-2009 标准中文名称：硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 标准英文名称：Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay 国家标准《硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分 …
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