收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 14146-2009 标准中文名称：硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法 标准英文名称：Silicon epitaxial layers-determination of carrier concentration-mercury probe voltages-capacitance method 国家标准《硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位南京国盛电子有限公司、宁波立 …
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