收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 26067-2010 标准中文名称：硅片切口尺寸测试方法 标准英文名称：Standard test method for dimensions of notches on silicon wafers 国家标准《硅片切口尺寸测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位有研半导体材料股份有限公司、万向硅峰电子股份有限公司。主要起草人杜娟 、孙燕 、卢延廷 、楼春兰 。 收录自国家标准信息平台，认准 …
认准啦，用技术呵护全家！