收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 6621-2009 标准中文名称：硅片表面平整度测试方法 标准英文名称：Testing methods for surface flatness of silicon slices 国家标准《硅片表面平整度测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位上海合晶硅材料有限公司。主要起草人徐新华 、严世权 、王珍 。全部代替GB/T 6621-1995 收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家 …
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