收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 26070-2010 标准中文名称：化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法 标准英文名称：Characterization of subsurface damage in polished compound semiconductor wafers by reflectance difference spectroscopy method 国家标准《化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标 …
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