收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 6617-2009 标准中文名称：硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 标准英文名称：Test method for measuring resistivity of silicon wafer using spreading resistance probe 国家标准《硅片电阻率测定 扩展电阻探针法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位南京国盛电子有限公司、宁波立立电子股份有限公司。主要起草人马林宝 、骆红 、刘培东 、谭卫 …