GB/T 17444-2013 《红外焦平面阵列参数测试方法》-国家标准
目录
标准基础信息
- 标准号：GB/T 17444-2013
- 标准中文名称：红外焦平面阵列参数测试方法
- 标准英文名称：Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
国家标准《红外焦平面阵列参数测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国科学院上海技术物理研究所。主要起草人丁瑞军 、梁平治 、唐红兰 、陈洪雷 、曹妩媚 、殷建军等 。全部代替GB/T 17444-1998
- 标准号
- GB/T 17444-2013
- 发布日期
- 2013-11-12
- 实施日期
- 2014-04-15
- 全部代替标准
- GB/T 17444-1998
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L52
- 国际标准分类号
- 31.260
31 电子学 31.260 光电子学、激光设备 - 归口单位
- 工业和信息化部（电子）
- 执行单位
- 工业和信息化部（电子）
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
标准全文
- 点击查看标准全文。