GB/T 27760-2011 《利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 27760-2011
- 标准中文名称：利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
- 标准英文名称：Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps
国家标准《利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。主要起草单位国家纳米科学中心。主要起草人朱晓阳 、杨延莲 、贺蒙 、高洁 。本标准修改采用其他国际标准：ASTM E 2530-2006。采标中文名称:利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法。
- 标准号
- GB/T 27760-2011
- 发布日期
- 2011-12-30
- 实施日期
- 2012-05-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- N04
- 国际标准分类号
- 19.020
19 试验 19.020 试验条件和规程综合 - 归口单位
- 全国纳米技术标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国纳米技术标准化技术委员会
- 主管部门
- 中国科学院
标准全文
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