GB/T 30118-2013 《声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法》-国家标准
目录
标准基础信息
- 标准号：GB/T 30118-2013
- 标准中文名称：声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法
- 标准英文名称：Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications―Specifications and measuring methods
国家标准《声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法》由TC182（全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子科技集团公司第二十六研究所、中国电子科技集团德清华莹电子有限公司、北京石晶光电科技有限公司。主要起草人张小梅 、蒋春键 、吴兆刚 、吴剑波 、赵雄章 、周洋舟 。本标准修改采用IEC国际标准：IEC 62276:2005。采标中文名称:声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法。
- 标准号
- GB/T 30118-2013
- 发布日期
- 2013-12-17
- 实施日期
- 2014-05-15
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L21
- 国际标准分类号
- 31.140
31 电子学 31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件 - 归口单位
- 全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
标准全文
- 点击查看标准全文。