GB/T 30453-2013 《硅材料原生缺陷图谱》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 30453-2013
- 标准中文名称：硅材料原生缺陷图谱
- 标准英文名称：Metallographs collection for original defects of crystalline silicon
国家标准《硅材料原生缺陷图谱》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位有研半导体材料股份有限公司、东方电气集团峨眉半导体材料有限公司、南京国盛电子有限公司、杭州海纳半导体有公司、万向硅峰电子股份有限公司、四川新光硅业科技有限责任公司、陕西天宏硅材料有限责任公司、中国有色金属工业标准化计量质量研究所。主要起草人孙燕 、曹孜 、翟富义 、杨旭 、谭卫东 、黄笑容等 。
- 标准号
- GB/T 30453-2013
- 发布日期
- 2013-12-31
- 实施日期
- 2014-10-01
- 标准类别
- 基础
- 中国标准分类号
- H80
- 国际标准分类号
- 29.045
29 电气工程 29.045 半导体材料 - 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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