GB/T 5201-2012 《带电粒子半导体探测器测量方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 5201-2012
- 标准中文名称：带电粒子半导体探测器测量方法
- 标准英文名称：Test procedures for semiconductor charged particle detectors
国家标准《带电粒子半导体探测器测量方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位中核（北京）核仪器厂。主要起草人李志勇 、王军 。全部代替GB/T 5201-1994本标准非等效采用IEC国际标准：IEC 60333:1993。采标中文名称:核仪器 半导体带电粒子探测器 试验程序。
- 标准号
- GB/T 5201-2012
- 发布日期
- 2012-06-29
- 实施日期
- 2012-11-01
- 全部代替标准
- GB/T 5201-1994
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- F88
- 国际标准分类号
- 27.120
27 能源和热传导工程 27.120 核能工程 - 归口单位
- 全国核仪器仪表标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国核仪器仪表标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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