收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 4937.3-2012 标准中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检 标准英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination 国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 4937.4-2012 标准中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST） 标准英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) 国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）》由TC78（ …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 29332-2012 标准中文名称：半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) 标准英文名称：Semiconductor devices - Discrete devices - Part 9: Insulated-gate bipolar transistors(IGBT) 国家标准《半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT)》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位西安电力电子技术研究所、西 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 15877-2013 标准中文名称：半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范 标准英文名称：Semiconductor integrated circuits—Specification of DIP leadframes produced by etching 国家标准《半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位宁波东盛集成电路元件有限公司。主要起草人任忠平 、尹国钦 。全部代 …
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