收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 14863-2013 标准中文名称：用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法 标准英文名称：Method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes 国家标准《用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电 …
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