GB/T 31351-2014 《碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 31351-2014
- 标准中文名称：碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法
- 标准英文名称：Nondestructive test method for micropipe density of polished monocrystalline silicon carbide wafers
国家标准《碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位北京天科合达蓝光半导体有限公司、中国科学院物理研究所。主要起草人陈小龙 、郑红军 、张玮 、郭钰 、刘振洲 。
- 标准号
- GB/T 31351-2014
- 发布日期
- 2014-12-31
- 实施日期
- 2015-09-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- H26
- 国际标准分类号
- 77.040.99
77 冶金 77.040 金属材料试验 77.040.99 金属材料的其他试验方法 - 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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