GB/T 32282-2015 《氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 32282-2015
- 标准中文名称：氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法
- 标准英文名称：Test method for disoclation density of GaN single crystal—Cathodoluminescence spectroscopy
国家标准《氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、苏州纳维科技有限公司。主要起草人曾雄辉 、张燚 、董晓鸣 、牛牧童 、刘争晖 、邱永鑫 、王建峰 、徐科 。
- 标准号
- GB/T 32282-2015
- 发布日期
- 2015-12-10
- 实施日期
- 2016-11-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- H21
- 国际标准分类号
- 77.040
77 冶金 77.040 金属材料试验 - 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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