GB/T 33236-2016 《多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 33236-2016
- 标准中文名称：多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法
- 标准英文名称：Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method
国家标准《多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，TC38SC2（全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位中国科学院上海硅酸盐研究所。主要起草人卓尚军 、钱荣 、董疆丽 、申如香 、盛成 、高捷 、郑文平 。
- 标准号
- GB/T 33236-2016
- 发布日期
- 2016-12-13
- 实施日期
- 2017-11-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- G04
- 国际标准分类号
- 71.040.40
71 化工技术 71.040 分析化学 71.040.40 化学分析 - 归口单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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