收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 30656-2014 标准中文名称：碳化硅单晶抛光片 标准英文名称：Polished monocrystalline silicon carbide wafers 国家标准《碳化硅单晶抛光片》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位北京天科合达蓝光半导体有限公司、中国科学院物理研究所。主要起草人陈小龙 、郑红军 、张玮 、郭钰 、刘春俊 、刘振洲 。 收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 31353-2014 标准中文名称：蓝宝石衬底片弯曲度测试方法 标准英文名称：Test methods for bow of sapphire substrates 国家标准《蓝宝石衬底片弯曲度测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位江苏协鑫软控设备科技发展有限公司、中国科学院上海光学精密机械研究所、北京合能阳光新能源技术有限公司。主要起草人薛抗美 、魏明德 、黄修康 、杭寅 、林清香 、肖宗杰 。 收录自国家标准 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 12963-2014 标准中文名称：电子级多晶硅 标准英文名称：Electronic-grade polycrystalline silicon 国家标准《电子级多晶硅》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位峨嵋半导体材料研究所、四川新光硅业科技有限责任公司、有研半导体材料股份有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、新特能源股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司。主要起草人詹科 、杨旭 、种娜 、黎亚文 、梁洪 、孙燕 、刘 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 30655-2014 标准中文名称：氮化物LED外延片内量子效率测试方法 标准英文名称：Test methods for internal quantum efficiency of nitride LED epitaxial layers 国家标准《氮化物LED外延片内量子效率测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位中国科学院半导体研究所。主要起草人魏学成 、赵丽霞 、王军喜 、曾一平 、李晋闽 。 收录自国家标 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 31351-2014 标准中文名称：碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法 标准英文名称：Nondestructive test method for micropipe density of polished monocrystalline silicon carbide wafers 国家标准《碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 30654-2014 标准中文名称：Ⅲ族氮化物外延片晶格常数测试方法 标准英文名称：Test method for lattice constant of III-nitride epitaxial layers 国家标准《Ⅲ族氮化物外延片晶格常数测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位中国科学院半导体研究所。主要起草人孙宝娟 、赵丽霞 、王军喜 、曾一平 、李晋闽 。 收录自国家标准信息平台，认准 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 30653-2014 标准中文名称：Ⅲ族氮化物外延片结晶质量测试方法 标准英文名称：Test method for crystal quality of III-nitride epitaxial layers 国家标准《Ⅲ族氮化物外延片结晶质量测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位中国科学院半导体研究所。主要起草人孙宝娟 、赵丽霞 、王军喜 、曾一平 、李晋闽 。 收录自国家标准信息平台，认准 …
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认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 31370.4-2015 标准中文名称：平板显示器（FPD）彩色滤光片测试方法 第4部分：耐化学性 标准英文名称：Test mothod of flat panel display (FPD) color filters—Part 4: Chemical resistance 国家标准《平板显示器（FPD）彩色滤光片测试方法 第4部分：耐化学性》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位中国电子技术标准化研究院。 …
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