收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 32278-2015 标准中文名称：碳化硅单晶片平整度测试方法 标准英文名称：Test methods for flatness of monocrystalline silicon carbide wafers 国家标准《碳化硅单晶片平整度测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位北京天科合达蓝光半导体有限公司、中国科学院物理研究所。主要起草人陈 …
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