收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 32495-2016 标准中文名称：表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法 标准英文名称：Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon 国家标准《表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，TC38SC2（全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会）执行， …
认准啦，用技术呵护全家！