GB/T 13062-2018 《半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)》-国家标准

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标准基础信息

• 标准号：GB/T 13062-2018
• 标准中文名称：半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
• 标准英文名称：Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 21-1：Blank detail specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the qualification approval procedures

国家标准《半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院。主要起草人冯玲玲 、陈裕焜 、雷剑 、王琪 、王婷婷 、管松林 。全部代替GB/T 13062-1991本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60748-21-1：1997。采标中文名称:半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)。

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标准全文

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