GB/T 33657-2017 《纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范》-国家标准
目录
标准基础信息
- 标准号：GB/T 33657-2017
- 标准中文名称：纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
- 标准英文名称：Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells
国家标准《纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。主要起草单位中国科学院上海微系统与信息技术研究所。主要起草人陈一峰 、陈小刚 、宋志棠 。
- 标准号
- GB/T 33657-2017
- 发布日期
- 2017-05-12
- 实施日期
- 2017-12-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L56
- 国际标准分类号
- 31.200
31 电子学 31.200 集成电路、微电子学 - 归口单位
- 全国纳米技术标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国纳米技术标准化技术委员会
- 主管部门
- 中国科学院
标准全文
- 点击查看标准全文。