GB/T 33922-2017 《MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法》-国家标准
目录
标准基础信息
- 标准号：GB/T 33922-2017
- 标准中文名称：MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
- 标准英文名称：Wafer level test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive die performances
国家标准《MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法》由TC336（全国微机电技术标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位北京大学、中机生产力促进中心、北京必创科技股份有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、中北大学。主要起草人张威 、程红兵 、陈得民 、李海斌 、崔波 、石云波 、朱悦 。
- 标准号
- GB/T 33922-2017
- 发布日期
- 2017-07-12
- 实施日期
- 2018-02-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L55
- 国际标准分类号
- 31.200
31 电子学 31.200 集成电路、微电子学 - 归口单位
- 全国微机电技术标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国微机电技术标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
- 点击查看标准全文。