GB/T 35007-2018 《半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法》-国家标准
目录
标准基础信息
- 标准号：GB/T 35007-2018
- 标准中文名称：半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
- 标准英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
国家标准《半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所。主要起草人陈雁 、罗彬 、郭超 、王会影 、李锟 、蔡志刚 、邬海忠 、钟科 。
- 标准号
- GB/T 35007-2018
- 发布日期
- 2018-03-15
- 实施日期
- 2018-08-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L56
- 国际标准分类号
- 31.200
31 电子学 31.200 集成电路、微电子学 - 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
标准全文
- 点击查看标准全文。