GB/T 36477-2018 《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 36477-2018
- 标准中文名称：半导体集成电路 快闪存储器测试方法
- 标准英文名称：Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
国家标准《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子技术标准化研究院、中芯国际集成电路制造（上海）有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、复旦大学、中兴通讯股份有限公司。主要起草人菅端端 、陈大为 、钟明琛 、罗晓羽 、冯光涛 、倪昊 、赵子鉴 、董艺 、田万廷 、高硕 、闵昊 、刘刚 。
- 标准号
- GB/T 36477-2018
- 发布日期
- 2018-06-07
- 实施日期
- 2019-01-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L56
- 国际标准分类号
- 31.200
31 电子学 31.200 集成电路、微电子学 - 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
标准全文
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