GB/T 36613-2018 《发光二极管芯片点测方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 36613-2018
- 标准中文名称：发光二极管芯片点测方法
- 标准英文名称：Probe test method for light emitting diode chips
国家标准《发光二极管芯片点测方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位三安光电股份有限公司、厦门市三安光电科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、广州赛西标准检测研究院有限公司。主要起草人蔡伟智 、梁奋 、刘秀娟 、李国煌 、吕艳 、金威 、邵晓娟 、周钢 、时军朋 。
- 标准号
- GB/T 36613-2018
- 发布日期
- 2018-09-17
- 实施日期
- 2019-01-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L45
- 国际标准分类号
- 31.260
31 电子学 31.260 光电子学、激光设备 - 归口单位
- 工业和信息化部（电子）
- 执行单位
- 工业和信息化部（电子）
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
标准全文
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