GB/T 36655-2018 《电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 36655-2018
- 标准中文名称：电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
- 标准英文名称：Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
国家标准《电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC3（全国半导体设备和材料标准化技术委员会封装分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、江苏联瑞新材料股份有限公司、汉高华威电子有限公司。主要起草人封丽娟 、李冰 、陈进 、夏永生 、曹家凯 、吕福发 、阮建军 、王松宪 。
- 标准号
- GB/T 36655-2018
- 发布日期
- 2018-09-17
- 实施日期
- 2019-01-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L90
- 国际标准分类号
- 31.030
31 电子学 31.030 电子技术专用材料 - 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会封装分会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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