GB/T 37051-2018 《太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 37051-2018
- 标准中文名称：太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
- 标准英文名称：Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer
国家标准《太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位英利集团有限公司、中国电子技术标准化研究院、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、泰州中来光电科技有限公司、晋能清洁能源科技有限公司、镇江仁德新能源科技有限公司、天津英利新能源有限公司。主要起草人李锋 、李英叶 、段青春 、张伟 、吴翠姑 、冯亚彬 、裴会川 、程小娟 、唐骏 。
- 标准号
- GB/T 37051-2018
- 发布日期
- 2018-12-28
- 实施日期
- 2019-04-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- H80
- 国际标准分类号
- 29.045
29 电气工程 29.045 半导体材料 - 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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