GB/T 8756-2018 《锗晶体缺陷图谱》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 8756-2018
- 标准中文名称：锗晶体缺陷图谱
- 标准英文名称：Collection of metallographs on defects of germanium crystal
国家标准《锗晶体缺陷图谱》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）、全国有色金属标准化技术委员会联合归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、有研光电新材料有限责任公司、云南中科鑫圆晶体材料有限公司、中锗科技有限公司、广东先导稀材股份有限公司、云南东昌金属加工有限公司、有色金属技术经济研究院。主要起草人普世坤 、惠峰 、董汝昆 、冯德伸 、柯尊斌 、尹士平 、朱刘 、李素青 。全部代替GB/T 8756-1988
- 标准号
- GB/T 8756-2018
- 发布日期
- 2018-12-28
- 实施日期
- 2019-07-01
- 全部代替标准
- GB/T 8756-1988
- 标准类别
- 基础
- 中国标准分类号
- H80
- 国际标准分类号
- 29.045
29 电气工程 29.045 半导体材料 - 归口单位
- 全国有色金属标准化技术委员会
- 副归口单位
- 全国有色金属标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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