收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 4377-2018 标准中文名称：半导体集成电路 电压调整器测试方法 标准英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of voltage regulators 国家标准《半导体集成电路 电压调整器测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位圣邦微电子（北京）股份有限公司、中国航天科技集 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 35010.3-2018 标准中文名称：半导体芯片产品 第3部分：操作、包装和贮存指南 标准英文名称：Semiconductor die products—Part 3: Guide for handling, packing and storage 国家标准《半导体芯片产品 第3部分：操作、包装和贮存指南》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子科技 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 36474-2018 标准中文名称：半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法 标准英文名称：Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM) 国家标准《半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法》 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 36477-2018 标准中文名称：半导体集成电路 快闪存储器测试方法 标准英文名称：Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory 国家标准《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子技术标准化研究院、中芯国际集成电路制造（上海） …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 36479-2018 标准中文名称：集成电路 焊柱阵列试验方法 标准英文名称：Integrated circuits—Test methods for column grid array 国家标准《集成电路 焊柱阵列试验方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国电子技术标准化研究院。主要起草人吕栋 、丁荣铮 、 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 4937.11-2018 标准中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法 标准英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11: Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method 国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 4937.30-2018 标准中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理 标准英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing 国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第30 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 4937.13-2018 标准中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾 标准英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere 国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所、北京大学微电子研究院、无锡必 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 4937.19-2018 标准中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分：芯片剪切强度 标准英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 19: Die shear strength 国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分：芯片剪切强度》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所、深圳市 …
认准啦，用技术呵护全家！收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 4937.18-2018 标准中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分：电离辐照(总剂量) 标准英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 18: Ionizing radiation (total dose) 国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分：电离辐照(总剂量)》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中 …
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