收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 37051-2018 标准中文名称：太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法 标准英文名称：Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer 国家标准《太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位英利集团有限公司、中国电子技术标准化研究院、江西赛维LDK太阳能高科 …
认准啦，用技术呵护全家！