收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 33922-2017 标准中文名称：MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法 标准英文名称：Wafer level test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive die performances 国家标准《MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法》由TC336（全国微机电技术标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位北京大学、中机生产力促进中心、北京必创科技股份有限公司、中国电子科技 …
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