GB/T 1555-1997 《半导体单晶晶向测定方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 1555-1997
- 标准中文名称：半导体单晶晶向测定方法
- 标准英文名称：Test methods for determining the orientation ofa semiconductor single crystal
国家标准《半导体单晶晶向测定方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位峨嵋半导体材料厂。全部代替GB 5254-1985全部代替GB 8759-1988全部代替GB 5255-1985全部代替GB 1556-1979全部代替GB 1555-1979被GB/T 1555-2009GB/T 1555-2009全部代替本标准等效采用ITU国际标准：ASTM F26:1987。采标中文名称:。
- 标准号
- GB/T 1555-1997
- 发布日期
- 1997-12-22
- 实施日期
- 1998-08-01
- 废止日期
- 2010-06-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- H21
- 国际标准分类号
- 29.045
29 电气工程 29.045 半导体材料 - 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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