GB/T 4937-1995 《半导体器件机械和气候试验方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 4937-1995
- 标准中文名称：半导体器件机械和气候试验方法
- 标准英文名称：Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices
国家标准《半导体器件机械和气候试验方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位上海市电子仪表计量测试所。全部代替GB 4937-1985被GB/T 4937.2-2006GB/T 4937.2-2006部分代替被GB/T 4937.1-2006GB/T 4937.1-2006部分代替本标准等同采用IEC国际标准：IEC 749:1995。采标中文名称:。
- 标准号
- GB/T 4937-1995
- 发布日期
- 1995-12-22
- 实施日期
- 1996-08-01
- 废止日期
- 2007-02-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L40
- 国际标准分类号
- 31.080
31 电子学 31.080 半导体分立器件 - 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
标准全文
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